DRK8090 Photoelectric Profiler

Instrumentum hoc instrumentum non-contactum, opticum phase- mobile methodus mensurae interferometricae adoptat, superficiem operis in mensurando non laedat, cito metiri potest tres-dimensionales graphicae superficiei micro-topographiae variarum officinarum, et analysim et mensurationem computare. consequitur.

Product Description
Features: Apta ad metiendam asperitatem superficiei variarum coniecturae caudices et partium opticorum; altitudo reticuli rectoris et horologii; crassitudo litura craticulae sulcus et structura morphologiae limes tunicae; superficies orbis magnetici et capitis magnetici mensurae structura; superficies asperitatis laganum pii, et vasorum struc- tae, etc.
Ob altam mensurae subtilitatem instrumenti, proprietates habet mensurae non-contacti et trium dimensivarum, et imperium computatorium ac celeri analysi et calculi mensurarum eventuum adoptat. Hoc instrumentum aptum est omnibus gradibus probationis ac mensurae investigationis, unitates, industriae et fodiendi, inceptis mensuris, gazophylacia, accuratio officinarum processus, ac etiam apta institutis altiorum doctrinarum et in- stitutionum scientificarum, etc.
Pelagus parametri technica
Dimensio extensionis superficiei minimae inaequalitatis profunditatem
In superficie continua, cum nulla altitudo abrupta mutationis major sit quam 1/4 esse inter duo elementa adiacentia: 1000-1nm
Cum mutatio altitudinis maior est quam 1/4 necem inter duo elementa adiacentia: 130-1nm
Repetitio mensurae: δRa ≤0.5nm
Obiectivum lens magnificatio: 40X
Apertura numerica: Φ 65
Opus spatium: 0.5mm
Instrumentum campi visualis: Φ0.25mm
Photograph: 0.130.13mm
Instrumentum magnificationis Visual: 500×
Photograph (observatum a screen computatrum) 25500×
Receptor mensurationis ordinata: 1000X1000
Magnitudo pixel: 5.2×5.2µm
Mensuratio temporis sampling (scanning) time: 1S
Instrumentum vexillum Speculum reflectivity (princeps): ～50%
Reflexio (humilis): -4%
Fons accendens: lucerna candens 6V 5W
Intercessiones viridis necem filter: λ≒530nm
Dimidium latitudo λ≒10nm
Summa microscopii levare: 110 mm
Mensa levare: 5 mm
Motus motus in X et Y directionem: -10 mm
Rotatione range of operabilium: 360°
Benificium range of working table: ±6°
Systema computatrale: P4, 2.8G vel plus, 17-inch planae velum ostentum cum 1G vel pluribus memoria